- 製品型番 SN74BCT8244ADW
- ブランド Texas Instruments
- RoHS Yes
- 説明 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
- 分類 特殊ロジック
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在庫:1539
技術的な詳細
- 実装タイプ 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- 巻数 Surface Mount
- 注記 8
- 電圧 Scan Test Device with Buffers
- トルク - スクリュー 0°C ~ 70°C
- 幅 4.5V ~ 5.5V
- 最大AC電圧 24-SOIC
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